Tokrat vam predstavljamo novo prispelo opremo v okviru projekta ''Nadgradnja nacionalnih raziskovalnih infrastruktur – RIUM'' na Univerzi v Mariboru – visokoločljiv vrstični elektronski mikroskop, s tremi glavnimi detektorji za mikrokemično sestavo, kristalno strukturo in določitev kemijskih stanj.

Omogoča nam pripravo vzorcev za elektronsko in presevno mikroskopijo. Oprema je po načelu odprtega dostopa na razpolago širšemu krogu kvalificiranih raziskovalcev.

Opis opreme:

Visokoločljiv vrstični elektronski mikroskop je uporaben za opazovanje mikrostrukturnih konstituentov z ločljivostjo do 0,5 nm. Omogoča opazovanje elektro prevodnih in neprevodnih, kakor tudi magnetnih inženirskih materialov, pa tudi občutljivejših bioloških preparatov z delom v zelo širokem spektru pospeševanih napetosti (od zelo nizkih napetostih pod 100 V do 30 kV).

Oprema nam da odgovore na tri osnovna vprašanja:

• Iz katerih atomov je zgrajen material oziroma analizirana snov?
• Kako so ti atomi med seboj povezani?
• Kakšna je prostorska razporeditev atomov?

Kakšen je namen:

Oprema se uporablja za mikro in nanostrukturne analize kovinskih, keramičnih, polimernih, kompozitnih in hibridnih inženirskih materialov. Na področju žlahtnih kovin in njihovih zlitin je raziskovalna skupina na Fakulteti za strojništvo do sedaj uspešno izdelala in s pomočjo elektronske mikroskopije okarakterizirala nanodelce zlata ter jih uporabila za pripravo Au-konjugata in izdelavo prvega slovenskega LFIA antigenskega testa za detekcijo protiteles SARS-COV2 virusa.

Kako se uporablja:

Oprema se lahko uporablja za odkrivanje zgradbe materialov oziroma trdnih snovi na mikro in nanostrukturnem nivoju. Uporabna je vsestransko, torej za strokovnjake z različnih področij (naravoslovje, tehnika, medicina, biologija, kmetijstvo, …).

Oprema omogoča:

• razvoj novih materialov
• nova spoznanja na področjih zgradbe in lastnosti inženirskih materialov;
• reševanje aktualnih problemov gospodarstva (kvalitativna in kvantitativna mikrostrukturna analiza, identifikacija faz, fraktografija prelomnih površin)…