Preskoči na vsebino
Loader
en

MEDIJSKO SREDIŠČE

Univerza v Mariboru na zemljevidu institucij z opremo za najnaprednejšo površinsko analizo

Napredna tehnika masne spektrometrije sekundarnih ionov z analizatorjem na čas preleta je namenjena za preučevanje kemijske sestave materialov.

iernad.photo-8533

Tokratna prispela oprema v okviru projekta RIUM se nanaša na področje Napredni materiali in tehnologije. Raziskave na področjih obvladovanja izdelave, obdelave in karakterizacije materialov so namreč ključne za inovativne, v aplikacijo usmerjene izdelke in storitve. Z novo vrhunsko opremo, ki je edinstvena v Sloveniji in širše, bo tako raziskovalcem omogočen dostop do vrhunske opreme za izdelavo, predelavo in obdelavo naprednih materialov in razvoja novih izdelkov.

Predstavitev opreme:

Instrument masne spektrometrije sekundarnih ionov z analizatorjem na čas preleta je edinstvena oprema v slovenskem merilu in širši okolici zaradi njegove široke uporabe ter tehnologije, ki omogoča doseganje visoke masne in lateralne ločljivosti. Instrument se uporablja za merjenje masnih spektrov na površini trdnih snovi, na podlagi katerih lahko določimo elementno sestavo ter molekularno strukturo preučevane snovi. Instrument je opremljen z različnimi izvori ionskih pušk, kar predstavlja pomembno prednost analize anorganskih in organskih snovi. Uporaba konstantnega pretoka plina (kisika ali argona), ter dodatna možnost vzpostavitve inertne atmosfere omogočata analizo neprevodnih vzorcev z visoko ločljivostjo.

Pomembna prednost naprave je uporaba tandemske masne spektrometrije ter možnost ohlajanja in segrevanja vzorca med samo analizo.

Uporaba opreme:

Oprema se lahko uporablja za preučevanje trdnih snovi, ki so obstojne v ultra visokem vakuumu. Zaradi uporabe različnih ionskih izvorov se lahko le-ta uporablja za preučevanje anorganskih in organskih materialov, ki izkazujejo prevodne in prav tako neprevodne lastnosti. Pri tem izmerimo spektre, ki dosegajo visoke masne in lateralne ločljivosti, tudi za lažje elemente kot so vodik, dušik in kisik na površini snovi in v prav tako v njeni notranjosti.

Zaradi upora te tandemske masne spektrometrije, instrument izkazuje pomembno prednost pri določanju lastnosti organskih materialov z visoko masno in lateralno ločljivostjo.

S pomočjo instrumenta TOF-SIMS se bodo izvajale raziskave, ki vključujejo analizo najrazličnejših materialov trdnih snovi, kot so kovine, nekovine, keramični materiali, različni organski materiali (npr. polimeri) ter ostali napredni materiali, kompoziti različnih sestav.

Zaradi zelo široke uporabnosti instrumenta bodo napredne analize materialov, izvedene s pomočjo te tehnike, pomembno prispevale k razvoju znanosti, gospodarska ter prav tako vsakodnevnega življenja.Izr. prof. dr. Matjaž Finšgar, Fakulteta za kemijo in kemijsko tehnologijo UM

Oznake


Več novic

Zapri