​​​​​​​

Predstavitev opreme​

 

X-žarkovna fotoelektronska spektroskopija (XPS) je oprema za površinsko analizo s katero se določa elementna sestava in okolje elementa – oksidacijsko stanje in kemijsko povezavo elementov. Uporabljala se bo za napredne analize in študije različnih materialov. Uporablja se tako za gladke in hrapave površine tankih plasti kot tudi za bolj komplicirane prahove ter fine delce, za analizo površinskih atomskih plasti materialov z debelino nekaj μm. Omogoča avtomatsko kotno ločljivo meritev XPS, segrevanje in hlajenje vzorca ter globinsko profiliranje organskih snovi z uporabo tehnologije klastrov in monoatomnih argonovih ionov.
Dobavitelj opremeKratos Analytical, Shimadzu
Skrbnik opreme

Prof. dr. Matjaž Finšgar. matjaz.finzgar@um.si

Fakulteta za kemijo in kemijsko tehnologijo UM

Lokacija opreme Fakulteta za kemijo in kemijsko tehnologijo UM, Smetanova ulica 17, 2000 Maribor, prostor: D1-310

20_08_2021-1.JPG   20_08_2021-6.JPG   20_08_2021-14.JPG

20_08_2021-15.JPG   20_08_2021-13.JPG